中美半导体与电子行业的动态相关性与极端风险传染研究: 基于费城半导体指数与申万电子指数的证据
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

F830.9

基金项目:

国家自然科学基金项目“我国重点产业链供应链安全评估、韧性测度及监测预警研究”(72373078);浙江省自然科学基金重点项目“浙江省关键行业在中美产业链中的角色定位、风险评估与转型路径研究”(LZ25G030002);教育部人文社会科学研究项目“基于全风险系统的中国绿色金融风险协调与防控研究”(19YJAZH056);浙江省社会科学规划“党的二十大和省委十五届二次全会精神研究阐释”专项课题“应对美国对华出口管制的我国经济安全保障策略研究”。


Dynamic correlation and extreme risk contagion in the U.S.-China semiconductor and electronics industries: evidence from the PHLX SOX and Shenwan Electronics Index
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    在全球科技竞争和市场不确定性加剧背景下,中美半导体与电子行业市场的风险传染与联动性问题日益受到关注。基于费城半导体指数与申万电子指数,采用DCC-GARCH、BEKK-GARCH模型与Copula函数,研究中美半导体与电子行业的风险联动性与尾部依赖特征。结果表明:市场联动性具有显著时变性;美国市场对中国市场具有预测性;极端条件下尾部风险依赖性显著增强。为此建议加强监管、优化结构、推进产业自主化。

    Abstract:

    Against the backdrop of intensifying global technological competition and growing market uncertainty, the issues of risk contagion and interdependence between the semiconductor and electronics markets in China and the United States have attracted increasing attention. Based on the Philadelphia Semiconductor Index and the Shenwan Electronics Index, this study employs DCC-GARCH, BEKK-GARCH models, and Copula functions to examine the risk linkage and tail dependence characteristics of the two markets. The results indicate that: market interdependence exhibits significant time-varying features; the U.S. market has predictive power over the Chinese market; and tail risk dependence intensifies significantly under extreme conditions. Accordingly, this paper recommends strengthening regulatory coordination, optimizing market structures, and advancing industrial self-reliance.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

周新苗,刘慧宏,钱欢欢,袁苗.中美半导体与电子行业的动态相关性与极端风险传染研究: 基于费城半导体指数与申万电子指数的证据[J].中国软科学,2025,(4):205-213

复制
分享
相关视频

文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期: 2026-06-03
  • 出版日期:
文章二维码